【摘要】原子力显微镜（AFM）作为现代微观领域研究的重要工具，在表面分析中具有广泛的应用，它具有非常高的分辨率，是近年来表面成像技术中最重要的进展之一。本文介绍了利用原子力显微镜进行表面分析研究的基本原理以及原子力显微镜的硬件系统组成，重点介绍了利用原子力显微镜在生物、化学、材料等领域进行表面分析的现状。
【关键词】
《科技创新与应用》 2015-10-23
《邢台职业技术学院学报》 2015-10-23
《科技创新与应用》 2015-10-23
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010-56259535
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